XUV

Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.

XUV

Характеристики:

  • Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
  • Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
  • Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
  • Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения

Применение:

Измерение толщины покрытия

  • Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
  • Исследование алюминиевых и кремниевых слоев

Анализ материалов

  • Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
  • Общий анализ материалов и экспертиза
  • Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением

Контактная информация FISCHER

Contact

АСК-РЕНТГЕН
Санкт-Петербург/Росси́я

Связаться напрямую
Тел.: +7 812 448 18-85
Эл. почта: h.fischer@seifert-roentgen.com
Контактная форма

Информация

Загрузки