Метод обратного бета-рассеяния

Какие комбинации «покрытие — подложка» можно исследовать с помощью метода обратного бета-рассеяния?

Метод обратного бета-рассеяния позволяет измерять толщину покрытий, атомное число которых (Z) значительно отличается от атомных чисел соответствующих подложек, например покрытий из Au на Ni, лака на Fe, Sn на Cu.

Какова точность измерения с помощью метода обратного бета-рассеяния?

Это зависит от таких параметров, как толщина покрытия, состав поверхности, продолжительность измерения, разность атомных чисел покрытия и подложки.

Влияет ли коэффициент «плотность» на результат калибровки?

Да, влияет.
Пример:
сначала измерительный прибор калибруется с помощью образца, плотность покрытия которого составляет 2 г/см³. Затем измеряется новый образец с плотностью покрытия 1 г/см³. При этом без повторной калибровки будет возникать систематическая ошибка измерения. Это означает, что измеренные значения будут всегда слишком малы. Это обусловлено тем, что прибор формирует измерительный сигнал для нового образца таким же образом, как для покрытия с плотностью 2 г/см³.

Контактная информация FISCHER

АСК-РЕНТГЕН
Санкт-Петербург/Росси́я

Связаться напрямую
Тел.: +7 812 448 18-85
Эл. почта: h.fischer@seifert-roentgen.com
Контактная форма